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    液体式冷热冲击试验机
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适合:电子芯片IC、PCB、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化试验。

 

高低温液体槽内采用强迫搅拌对流方式。

 

采用全自动上下左右位移机构移动试料篮至预热、预冷槽,往返冲击方式。

 

热煤油采用单一相同液体 GARDEN D02TS 于高低温槽内,降低经常换液体之成本。

 

采用原装大型液晶LCD(320 x 240 Dots)中文/英文显示温度可程式微计算机控制器。

 

本设备配合现场需要,可选择水冷或气冷之冷却方式

 

本冷热冲击机构移动时间为10秒内



Model

GTST-021S-65-L

GTST-160S-65-L

Internal Dim. W x H x D (cm)

Immersion in liquid bath by movement of a sample basket rack

External Dim. W x H x D (cm)

20 x 35 x 30 x 2 Bath

26 x 35 x 45 x 2 Bath

Temp. Rise Time (High Temp. Bath)

Room Temperature to +150 ℃ Within 80 Minutes

Temp. Drop Time (Low Temp. Bath)

Room Temperature to -65 ℃ Within 120 Minutes

Precool / Preheat Temp. Range

-75.00 ℃ ~ 00.00 ℃ / +60.00 ℃ ~ +160.00 ℃

Shocking Temp. Range

-65.00 ℃ ~ 00.00 ℃ / +60.00 ℃ ~ +150.00 ℃

Testing Time

Within 5 min Within 5 min

Specimen Transfer Time

Within 10 sec
(Time of transfer between hot and cold baths)

Resolution

0.01℃ / 1 min

Control Constancy

±0.2 ℃

Sample Basket Dim. W x H x D (cm)

12 x 15 x 12 18 x 25 x 35

Sample Weight

IC 2 Kg IC 5 Kg

Controller

CLCD-9800

Power Source

AC 3ψ 220V / 380V , 60/50Hz


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